pct高壓加速老化試驗機測試半導體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等 。高壓加速壽命試驗箱是用于測試半導體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，多層線路板,光伏組件,EVA,IC,LED,LCD,磁性材料,高分子材料等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。

      艾思荔儀器于1988年研發(fā)生產(chǎn)pct高壓加速老化試驗機，經(jīng)過艾思荔人二十余年不斷努力的奮斗，艾思荔儀器pct高壓加速老化試驗機系列環(huán)境試驗設備不斷發(fā)展成為國內，注重設備質量的同時更注重的服務，這正是艾思荔一步步邁進的根本原因，艾思荔在各個行業(yè)均有良好的口碑和*，艾思荔儀器碩果累累，努力發(fā)展新技術，整合資源，走價值增長型高科持道路，把儀器試驗設備打造成國內的環(huán)境試驗設備企業(yè)，是艾思荔人多年肩負的歷史使命。